Measurement of ion temperature in scrape-off layer with Katsumata Probe

小田島 和男; 木村 晴行; 前田 彦祐; 大麻 和美

Japanese Journal of Applied Physics, 17(7), p.1281 - 1282, 1978/07

https://doi.org/10.1143/JJAP.17.1281

トカマクの不純物制御の研究では周辺プラズマのパラメータを知ることが重要である。JFT-2aにおいてはその周辺プラズマのパラメータを種々のプローブを用いて測定し、比例則を求めている。カツマタプローブは磁場に対して直角方向のイオン温度を測定するプローブであるが、プラズマの基礎実験つまりQ-Machineやヘリウムの放電プラズマ中ではその有効性がためされているが、トカマクの周辺プラズマのように高温、高密度、高磁場中ではまだ実証されていない。本論文ではそのようなトカマク周辺プラズマにおいて、カツマタプローブを用い以下の事を示した。(1)カツマタプローブの有効性をファラディーカップとのクロスチェックにより示した。(2)そのようにして得られた周辺プラズマのイオン温度は等方的であった。(3)主プラズマの中心のイオン温度と周辺プラズマのイオン温度は比例していて、その比例係数は「5」になる。